積體電路測試實務, 2/e

廖裕評、陸瑞強

  • 出版商: 全華圖書
  • 出版日期: 2017-04-26
  • 定價: $300
  • 售價: 9.0$270
  • 語言: 繁體中文
  • 頁數: 216
  • ISBN: 9864635158
  • ISBN-13: 9789864635153

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商品描述

積體電路設計是近年來熱門話題,半導體產品廣範的被人使用,本書作者以基礎測試觀念將重點整理出來。

本書第一章為了積體電路測試的簡介,介紹基本配備及觀念。
第二章IC特性與規格介紹,介紹邏輯元件的電性。
第三章DC參數測試,介紹高阻抗電流、開路/短路測試及故障排除。
第四章功能測試。
第五章資料分析,含晶片地圖、統計製程(SPC)。
第六章測試經濟學,介紹成本、產能。附錄整理出詞彙並附有解釋。

本書適合大學、科大電子、電機、資工系「積體電路測試」課程。

目錄大綱

第1章 積體電路測試簡介
第2章 IC特性與規格介紹
第3章 DC參數測試
第4章 功能測試
第5章 資料分析
第6章 測試經濟學
附  錄 詞彙解釋