VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Hardcover)

Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

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商品描述

Description

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

 

Table of Contents

Chapter 1 – Introduction Chapter 2 – Design for Testability Chapter 3 – Logic and Fault Simulation Chapter 4 – Test Generation Chapter 5 – Logic Built-In Self-Test Chapter 6 – Test Compression Chapter 7 – Logic Diagnosis Chapter 8 – Memory Testing and Built-In Self-Test Chapter 9 – Memory Diagnosis and Built-In Self-Repair Chapter 10 – Boundary Scan and Core-Based Testing Chapter 11 – Analog and Mixed-Signal Testing Chapter 12 – Test Technology Trends in the Nanometer Age

商品描述(中文翻譯)

描述

這本書是一本全面介紹新的DFT方法的指南,將向讀者展示如何設計可測試和高品質的產品,降低測試成本,提高產品品質和產量,並加快上市和量產時間。

目錄

第1章 - 簡介 第2章 - 設計可測試性 第3章 - 邏輯和故障模擬 第4章 - 測試生成 第5章 - 邏輯內建自測 第6章 - 測試壓縮 第7章 - 邏輯診斷 第8章 - 記憶體測試和內建自測 第9章 - 記憶體診斷和內建自修復 第10章 - 邊界掃描和基於核心的測試 第11章 - 模擬和混合信號測試 第12章 - 纳米时代的測試技術趨勢