Direct Conversion Semiconductor Radiation Detectors Using Si, Cdte and Cdznte
暫譯: 直接轉換半導體輻射探測器：使用Si、CdTe和CdZnTe

本書為讀者提供了有關直接轉換探測器領域中一些最新進展的廣泛概述。書中包含了技術和應用方面的多個一般章節。讀者將深入了解全球領先研究機構所進行的研究主題。書中涵蓋了直接轉換信號轉換為類比/數位值的過程，作者還對用於直接影像感測器的ROIC（讀出整合電路）晶片進行了回顧。本書應該是已在該領域工作的人士以及希望進入該領域的人的絕佳參考資料。

Krzysztof (Kris) Iniewski is director of detector architecture and applications at Redlen Technologies Inc. in British Columbia, Canada. During his 15 years at Redlen he has managed development of highly integrated CdZnTe detector products in medical imaging and security applications. Prior to Redlen Kris hold various management and academic positions at PMC-Sierra, University of Alberta, SFU, UBC and University of Toronto.

Dr. Iniewski has published over 150+ research papers in international journals and conferences. He holds 25+ international patents granted in USA, Canada, France, Germany, and Japan. He wrote and edited 75+ books for Springer, Wiley, Cambridge University Press, Mc-Graw Hill, and CRC Press. He is a frequent invited speaker and has consulted for multiple organizations internationally. Recent metrics analysis showed: h index = 33, i10 index = 100, number of citations = 4259.

Krzysztof (Kris) Iniewski 是位於加拿大不列顛哥倫比亞省的 Redlen Technologies Inc. 的探測器架構與應用總監。在 Redlen 工作的 15 年中，他負責管理在醫療影像和安全應用中高度整合的 CdZnTe 探測器產品的開發。在加入 Redlen 之前，Kris 曾在 PMC-Sierra、阿爾伯塔大學、SFU、UBC 和多倫多大學擔任各種管理和學術職位。

Iniewski 博士在國際期刊和會議上發表了超過 150 篇研究論文。他擁有 25 項以上在美國、加拿大、法國、德國和日本授予的國際專利。他為 Springer、Wiley、劍橋大學出版社、Mc-Graw Hill 和 CRC Press 編寫和編輯了超過 75 本書籍。他是經常受邀的演講者，並為多個國際組織提供諮詢服務。最近的指標分析顯示：h 指數 = 33，i10 指數 = 100，引用次數 = 4259。