Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications (Hardcover)
暫譯: 表面與薄膜分析：原則、儀器與應用彙編（精裝版）

H. Bubert, H. Jenett

Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications (Hardcover)
  • 出版商: Wiley
  • 出版日期: 2002-05-07
  • 售價: $2,000
  • 貴賓價: 9.8 折 $1,960
  • 語言: 英文
  • 頁數: 353
  • 裝訂: Hardcover
  • ISBN: 3527304584
  • ISBN-13: 9783527304585

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商品描述

The development and quality assurance of such high-tech materials as semiconductors or biopolymers demand special analytical methods for surfaces and thin films. This book presents the whole spectrum of methods available in a clear manner, moving beyond the basics, equipment and applications to compare these methods. This allows users to find the optimum method in solving any given problem.
- The book is richly illustrated with 200 figures
- Almost 900 references guide to the primary literature
- A list of suppliers, each with full address, makes it easy to obtain the required equipment

Table of Contents

Preface.

List of Authors.

Introduction (J. Rivi鋨e & H. Bubert).

Electron Detection.

Photoelectron Spectroscopy.

Auger Electron Spectroscopy (AES) (H. Bubert & J. Rivi鋨e).

Electron Energy-Loss Spectroscopy (EELS) (R. Schneider).

Low-energy Electron Diffraction (LEED) (G. Held).

Other Electron-detecting Techniques (J. Rivi鋨e).

Ion Detection.

Static Secondary Ion Mass Spectrometry (SSIMS) (H. Arlinghaus).

Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) (H. Hutter).

Electron-impact (EI) Secondary Neutral Mass Spectrometry (SNMS) (H. Jenett).

Laser-SNMS (H. Arlinghaus).

Rutherford Back-scattering Spectroscopy (RBS) (L. Palmetshofer).

Low-energy Ion Scattering (LEIS) (P. Bauer).

Elastic Recoil Detection Analysis (ERDA) (O. Benka).

Nuclear Reaction Analysis (NRA) (O. Benka).

Other Ion-detecting Techniques (J. Rivi鋨e).

Photon Detection.

Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis (TXRF) (L. Fabry & S. Pahlke).

Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDXS) (R. Schneider).

Grazing Incidence X-ray Methods for Near-surface Structural Studies (P. Gibson).

Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GD-OES) (A. Quentmeier).

Surface Analysis by Laser Ablation (M. Bolshov).

Ion Beam Spectrochemical Analysis (IBSCA) (V. Rupertus).

Reflection Absorption IR Spectroscopy (RAIRS) (K. Hinrichs).

Surface-enhanced Raman Scattering (SERS) (W. Hill).

UV-Vis-IR Ellipsometry (ELL) (B. Gruska & A. R飉eler).

Other Photon-detecting Techniques (J. Rivi鋨e).

Scanning Probe Microscopy.

Atomic Force Microscopy (AFM) (G. Friedbacher).

Scanning Tunneling Microscopy (STM) (G. Friedbacher).

Summary and Comparison of Techniques.

Surface and Thin Film Analytical Equipment Suppliers.

References.

Index.

商品描述(中文翻譯)

高科技材料如半導體或生物聚合物的開發與品質保證需要特殊的表面和薄膜分析方法。本書以清晰的方式呈現可用的各種方法，超越基礎知識、設備和應用，對這些方法進行比較。這使得使用者能夠找到解決特定問題的最佳方法。
- 本書配有200幅插圖
- 幾乎900條參考文獻指引至主要文獻
- 供應商名單，每個供應商均附有完整地址，方便獲取所需設備

**目錄**
前言。
作者名單。
引言 (J. Riviére & H. Bubert)。
電子檢測。
光電子光譜學。
奧吉電子光譜學 (AES) (H. Bubert & J. Riviére)。
電子能量損失光譜學 (EELS) (R. Schneider)。
低能電子衍射 (LEED) (G. Held)。
其他電子檢測技術 (J. Riviére)。
離子檢測。
靜態次級離子質量光譜學 (SSIMS) (H. Arlinghaus)。
動態次級離子質量光譜學 (SIMS) (H. Hutter)。
電子撞擊 (EI) 次級中性質量光譜學 (SNMS) (H. Jenett)。
激光-SNMS (H. Arlinghaus)。
拉塞福反向散射光譜學 (RBS) (L. Palmetshofer)。
低能離子散射 (LEIS) (P. Bauer)。
彈性反沖檢測分析 (ERDA) (O. Benka)。
核反應分析 (NRA) (O. Benka)。
其他離子檢測技術 (J. Riviére)。
光子檢測。
全反射X射線螢光分析 (TXRF) (L. Fabry & S. Pahlke)。
能量色散X射線光譜學 (EDXS) (R. Schneider)。
近表面結構研究的掠入射X射線方法 (P. Gibson)。
輝光放電光學發射光譜學 (GD-OES) (A. Quentmeier)。
激光消融表面分析 (M. Bolshov)。
離子束光譜化學分析 (IBSCA) (V. Rupertus)。
反射吸收紅外光譜學 (RAIRS) (K. Hinrichs)。
表面增強拉曼散射 (SERS) (W. Hill)。
紫外-可見-紅外橢圓偏振測量 (ELL) (B. Gruska & A. Rüeler)。
其他光子檢測技術 (J. Riviére)。
掃描探針顯微鏡。
原子力顯微鏡 (AFM) (G. Friedbacher)。
掃描隧道顯微鏡 (STM) (G. Friedbacher)。
技術總結與比較。
表面和薄膜分析設備供應商。
參考文獻。
索引。

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