矽後驗證與調試 Post-Silicon Validation and Debug

本書系統闡述矽後驗證和SoC調試中所面臨的 關鍵挑戰、前沿技術與 研究進展，旨在顯著提 升驗證效率並降低調試成本。 本書匯集了矽後驗證和調試專家的研究成果： 第1章概述SoC設計方法學，並強調矽後驗證和調試 所面臨的挑戰；第2～6章描述設計調試架構的有效 技術，包括片上設備和信號選擇；第7～10章介紹生 成測試和斷言的有效技術； 1～15章提供自動化 方法，用於定位、檢測和修覆矽後錯誤； 6～17 章描述兩個案例研究（NoC和IBMPOWER8處理器）； 8章討論設計調試與安全漏洞之間的內在沖突； 9章展望矽後驗證與調試的未來發展趨勢和潛在 突破方向。 本書為SoC設計人員、驗證工程師以及對異構 SoC的矽後驗證與調試感興趣的研究人員提供了全面 的參考資料。