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商品描述
本書基於職業崗位能力要求，立足新時代“中國芯”發展的戰略需求，精心設計了6個項目，由淺入深、系統全面地介紹集成電路測試相關知識與技能。從搭建集成電路測試環境，到數字芯片和模擬芯片的典型參數測試，再到功能測試和綜合電路測試，全方位訓練學生的集成電路測試綜合技能。在每個項目中都引導學生傳承工匠精神，將個人理想與民族覆興結合起來，立誌肩負時代重任。 本書在編寫過程中，註重理論與實踐相結合，強調學以致用、知行合一。每個項目都提供了詳實的背景資料、詳細的操作步驟和大量案例，引導學生從“要我學”變為“我要學”，帶著問題學，及時鞏固練習。同時，每個項目後還專門設置了拓展知識，進一步拓寬專業視野，為後續學習預留空間。 本書可作為職業本科、高職高專院校電子信息類相關專業的教材，尤其適合電子制造技術、集成電路等專業，也可供從事集成電路測試工作和對此感興趣的工程技術人員參考。
目錄大綱
前言
項目1 搭建集成電路測試環境項目導讀
1.1 知識儲備：初識集成電路測試
1.1.1 集成電路測試分類
1.1.2 FT原理及流程
1.1.3 FT常用設備
1.2 創建第一個集成電路測試工程文件
1.2.1 CD4511芯片測試任務描述
1.2.2 CD4511數據手冊閱讀
1.2.3 認識集成電路測試系統
1.2.4 創建集成電路測試工程文件
1.2.5 測試程序編寫說明
1.3 創建集成電路測試工程文件常見錯誤
1.4 練一練
1.5 拓展知識
1.5.1 測試機編程手冊
1.5.2 測試機使用註意事項
項目2 數字芯片典型參數測試項目導讀
2.1 知識儲備：數字芯片典型參數測試原理及測試工裝
2.1.1 開/短路測試原理
2.1.2 漏電流測試原理
2.1.3 輸出電平測試原理
2.1.4 電源供電電流測試原理
2.1.5 數字芯片參數測試工裝
2.2 對地開/短路測試
2.2.1 對地開/短路測試任務描述
2.2.2 對地開/短路測試任務實施
2.3 對電源開/短路測試
2.3.1 對電源開/短路測試任務描述
2.3.2 對電源開/短路測試任務實施
2.4 輸入高電平漏電流測試
2.4.1 輸入高電平漏電流測試任務描述
2.4.2 輸入高電平漏電流測試任務實施
2.5 輸入低電平漏電流測試
2.5.1 輸入低電平漏電流測試任務描述
2.5.2 輸入低電平漏電流測試任務實施
2.6 輸出高電平測試
2.6.1 輸出高電平測試任務描述
2.6.2 輸出高電平測試任務實施
2.7 輸出低電平測試
2.7.1 輸出低電平測試任務描述
2.7.2 輸出低電平測試任務實施
2.8 電源供電電流測試
2.8.1 電源供電電流測試任務描述
2.8.2 電源供電電流測試任務實施
2.9 參數測試常見錯誤
2.10 練一練
2.11 拓展知識
2.11.1 職業規範概述
2.11.28 S管理方式
2.11.3 “8個為零”的8S管理成效
項目3 典型數字芯片功能測試項目導讀
3.1 知識儲備：關鍵器件及芯片簡介
3.1.1 數碼管簡介
3.1.27 4LS48芯片簡介
3.1.37 4HC157芯片簡介
3.1.47 4HC393芯片簡介
3.1.57 4HC283芯片簡介
3.27 4LS48芯片功能測試
3.2.17 4LS48芯片功能測試任務描述
3.2.27 4LS48芯片功能測試任務實施
3.37 4HC157芯片功能測試
3.3.17 4HC157芯片功能測試任務描述
3.3.27 4HC157芯片功能測試任務實施
3.47 4HC393芯片功能測試
3.4.17 4HC393芯片功能測試任務描述
3.4.27 4HC393芯片功能測試任務實施
3.57 4HC283芯片功能測試
3.5.17 4HC283芯片功能測試任務描述
3.5.27 4HC283芯片功能測試任務實施
3.6 典型數字芯片功能測試常見錯誤
3.7 練一練
3.8 拓展知識——兩位數碼管顯示驅動
項目4 模擬芯片典型參數測試項目導讀
4.1 知識儲備：模擬芯片典型參數測試原理
4.1.1 輸入失調電壓測試原理
4.1.2 輸出短路電流測試原理
4.1.3 共模抑制比測試原理
4.1.4 開環增益測試原理
4.1.5 關鍵模擬芯片簡介
4.2 輸入失調電壓測試
4.2.1 輸入失調電壓測試任務描述
4.2.2 輸入失調電壓測試任務實施
4.3 輸出短路電流測試
4.3.1 輸出短路電流測試任務描述
4.3.2 輸出短路電流測試任務實施
4.4 共模抑制比測試
4.4.1 共模抑制比測試任務描述
4.4.2 共模抑制比測試任務實施
4.5 開環增益測試
4.5.1 開環增益測試任務描述
4.5.2 開環增益測試任務實施
4.6模擬芯片典型參數測試常見錯誤
4.7 練一練
4.8 拓展知識——線性穩壓器測試
4.8.1 測試工裝準備
4.8.2 LD1117芯片輸出電壓測試
4.8.3 LD1117芯片負載調整率測試
項目5 運放典型功能測試項目導讀
5.1 知識儲備：運放典型功能測試原理
5.1.1 同相比例放大電路測試原理
5.1.2 反相比例放大電路測試原理
5.1.3 加法運算電路測試原理
5.2 同相比例放大電路測試
5.2.1 同相比例放大電路測試任務描述
5.2.2 同相比例放大電路測試任務實施
5.3 反相比例放大電路測試
5.3.1 反相比例放大電路測試任務描述
5.3.2 反相比例放大電路測試任務實施
5.4 加法運算電路測試
5.4.1 加法運算電路測試任務描述
5.4.2 加法運算放大電路測試任務實施
5.5 LM358功能測試常見錯誤
5.6 練一練
5.7 拓展知識——加法運算電路交流輸入測試
項目6 綜合電路測試項目導讀
6.1 知識儲備：識讀綜合電路
6.2 電壓調檔顯示綜合練習板測試
6.2.1 電壓調檔顯示綜合練習板測試任務描述
6.2.2 電壓調檔顯示綜合練習板測試任務實施
6.3 電壓采集顯示電路測試
6.3.1 電壓采集顯示電路測試任務描述
6.3.2 電壓采集顯示電路測試任務實施
