UVM 芯片驗證技術案例集

馬驍，東南大學集成電路專業碩士，已申請芯片驗證領域多個專利，網易雲課堂“芯片驗證：UVM理論與實戰”“芯片驗證：Python腳本理論與實戰”等課程的作者。

 

目錄

 

 

本書源碼

 

 

第1章可重用的UVM驗證環境

 

1.1背景技術方案及缺陷

 

1.1.1現有方案

 

1.1.2主要缺陷

 

1.2解決的技術問題

 

1.3提供的技術方案

 

1.3.1結構

 

1.3.2原理

 

1.3.3優點

 

1.3.4具體步驟

 

第2章interface快速聲明、連接和配置傳遞的方法

 

2.1背景技術方案及缺陷

 

2.1.1現有方案

 

2.1.2主要缺陷

 

2.2解決的技術問題

 

2.3提供的技術方案

 

2.3.1結構

 

2.3.2原理

 

2.3.3優點

 

2.3.4具體步驟

 

第3章在可重用驗證環境中連接interface的方法

 

3.1背景技術方案及缺陷

 

3.1.1現有方案

 

3.1.2主要缺陷

 

3.2解決的技術問題

 

3.3提供的技術方案

 

3.3.1結構

 

3.3.2原理

 

3.3.3優點

 

3.3.4具體步驟

 

 

 

 

 

第4章支持結構體埠數據類型的連接interface的方法

 

4.1背景技術方案及缺陷

 

4.1.1現有方案

 

4.1.2主要缺陷

 

4.2解決的技術問題

 

4.3提供的技術方案

 

4.3.1結構

 

4.3.2原理

 

4.3.3優點

 

4.3.4具體步驟

 

第5章快速配置和傳遞驗證環境中配置對象的方法

 

5.1背景技術方案及缺陷

 

5.1.1現有方案

 

5.1.2主要缺陷

 

5.2解決的技術問題

 

5.3提供的技術方案

 

5.3.1結構

 

5.3.2原理

 

5.3.3優點

 

5.3.4具體步驟

 

第6章對採用reactive slave方式驗證的改進方法

 

6.1背景技術方案及缺陷

 

6.1.1現有方案

 

6.1.2主要缺陷

 

6.2解決的技術問題

 

6.3提供的技術方案

 

6.3.1結構

 

6.3.2原理

 

6.3.3優點

 

6.3.4具體步驟

 

第7章應用sequence反饋機制的激勵控制方法

 

7.1背景技術方案及缺陷

 

7.1.1現有方案

 

7.1.2主要缺陷

 

7.2解決的技術問題

 

7.3提供的技術方案

 

7.3.1結構

 

7.3.2原理

 

7.3.3優點

 

7.3.4具體步驟

 

第8章應用uvm_tlm_analysis_fifo的激勵控制方法

 

8.1背景技術方案及缺陷

 

8.1.1現有方案

 

8.1.2主要缺陷

 

8.2解決的技術問題

 

8.3提供的技術方案

 

8.3.1結構

 

8.3.2原理

 

8.3.3優點

 

8.3.4具體步驟

 

第9章快速建立DUT替代模型的記分板標準方法

 

9.1背景技術方案及缺陷

 

9.1.1現有方案

 

9.1.2主要缺陷

 

9.2解決的技術問題

 

9.3提供的技術方案

 

9.3.1結構

 

9.3.2原理

 

9.3.3優點

 

9.3.4具體步驟

 

第10章支持亂序比較的記分板的快速實現方法

 

10.1背景技術方案及缺陷

 

10.1.1現有方案

 

10.1.2主要缺陷

 

10.2解決的技術問題

 

10.3提供的技術方案

 

10.3.1結構

 

10.3.2原理

 

10.3.3優點

 

10.3.4具體步驟

 

第11章對固定延遲輸出結果的RTL接口信號的monitor的簡便方法

 

11.1背景技術方案及缺陷

 

11.1.1現有方案

 

11.1.2主要缺陷

 

11.2解決的技術問題

 

11.3提供的技術方案

 

11.3.1結構

 

11.3.2原理

 

11.3.3優點

 

11.3.4具體步驟

 

第12章監測和控制DUT內部信號的方法

 

12.1背景技術方案及缺陷

 

12.1.1現有方案

 

12.1.2主要缺陷

 

12.2解決的技術問題

 

12.3提供的技術方案

 

12.3.1結構

 

12.3.2原理

 

12.3.3優點

 

12.3.4具體步驟

 

第13章向UVM驗證環境中傳遞設計參數的方法

 

13.1背景技術方案及缺陷

 

13.1.1現有方案

 

13.1.2主要缺陷

 

13.2解決的技術問題

 

13.3提供的技術方案

 

13.3.1結構

 

13.3.2原理

 

13.3.3優點

 

13.3.4具體步驟

 

第14章對設計與驗證平臺連接集成的改進方法

 

14.1背景技術方案及缺陷

 

14.1.1現有方案

 

14.1.2主要缺陷

 

14.2解決的技術問題

 

14.3提供的技術方案

 

14.3.1結構

 

14.3.2原理

 

14.3.3優點

 

14.3.4具體步驟

 

第15章應用於路由類模塊設計的transaction調試追蹤和控制的方法

 

15.1背景技術方案及缺陷

 

15.1.1現有方案

 

15.1.2主要缺陷

 

15.2解決的技術問題

 

15.3提供的技術方案

 

15.3.1結構

 

15.3.2原理

 

15.3.3優點

 

15.3.4具體步驟

 

第16章使用UVM sequence item對包含layered protocol的RTL設計進行驗證的

簡便方法

16.1背景技術方案及缺陷

 

16.1.1現有方案

 

16.1.2主要缺陷

 

16.2解決的技術問題

 

16.3提供的技術方案

 

16.3.1結構

 

16.3.2原理

 

16.3.3優點

 

16.3.4具體步驟

 

第17章應用於VIP的訪問者模式方法

 

17.1背景技術方案及缺陷

 

17.1.1現有方案

 

17.1.2主要缺陷

 

17.2解決的技術問題

 

17.3提供的技術方案

 

17.3.1結構

 

17.3.2原理

 

17.3.3優點

 

17.3.4具體步驟

 

第18章設置UVM目標phase的額外等待時間的方法

 

18.1背景技術方案及缺陷

 

18.1.1現有方案

 

18.1.2主要缺陷

 

18.2解決的技術問題

 

18.3提供的技術方案

 

18.3.1結構

 

18.3.2原理

 

18.3.3優點

 

18.3.4具體步驟

 

第19章基於UVM驗證平臺的模擬結束機制

 

19.1背景技術方案及缺陷

 

19.1.1現有方案

 

19.1.2主要缺陷

 

19.2解決的技術問題

 

19.3提供的技術方案

 

19.3.1結構

 

19.3.2原理

 

19.3.3優點

 

19.3.4具體步驟

 

第20章記分板和斷言檢查相結合的驗證方法

 

20.1背景技術方案及缺陷

 

20.1.1現有方案

 

20.1.2主要缺陷

 

20.2解決的技術問題

 

20.3提供的技術方案

 

20.3.1結構

 

20.3.2原理

 

20.3.3優點

 

20.3.4具體步驟

 

第21章支持錯誤註入驗證測試的驗證平臺

 

21.1背景技術方案及缺陷

 

21.1.1現有方案

 

21.1.2主要缺陷

 

21.2解決的技術問題

 

21.3提供的技術方案

 

21.3.1結構

 

21.3.2原理

 

21.3.3優點

 

21.3.4具體步驟

 

第22章一種基於bind的ECC存儲註錯測試方法

 

22.1背景技術方案及缺陷

 

22.1.1現有方案

 

22.1.2主要缺陷

 

22.2解決的技術問題

 

22.3提供的技術方案

 

22.3.1結構

 

22.3.2原理

 

22.3.3優點

 

22.3.4具體步驟

 

第23章在驗證環境中更優的枚舉型變量的聲明使用方法

 

23.1背景技術方案及缺陷

 

23.1.1現有方案

 

23.1.2主要缺陷

 

23.2解決的技術問題

 

23.3提供的技術方案

 

23.3.1結構

 

23.3.2原理

 

23.3.3優點

 

23.3.4具體步驟

 

第24章基於UVM方法學的SVA封裝方法

 

24.1背景技術方案及缺陷

 

24.1.1現有方案

 

24.1.2主要缺陷

 

24.2解決的技術問題

 

24.3提供的技術方案

 

24.3.1結構

 

24.3.2原理

 

24.3.3優點

 

24.3.4具體步驟

 

第25章增強對SVA調試和控制的方法

 

25.1背景技術方案及缺陷

 

25.1.1現有方案

 

25.1.2主要缺陷

 

25.2解決的技術問題

 

25.3提供的技術方案

 

25.3.1結構

 

25.3.2原理

 

25.3.3優點

 

25.3.4具體步驟

 

第26章針對芯片復位測試場景下的驗證框架

 

26.1背景技術方案及缺陷

 

26.1.1現有方案

 

26.1.2主要缺陷

 

26.2解決的技術問題

 

26.3提供的技術方案

 

26.3.1結構

 

26.3.2原理

 

26.3.3優點

 

26.3.4具體步驟

 

第27章採用事件觸發的芯片復位測試方法

 

27.1背景技術方案及缺陷

 

27.1.1現有方案

 

27.1.2主要缺陷

 

27.2解決的技術問題

 

27.3提供的技術方案

 

27.3.1結構

 

27.3.2原理

 

27.3.3優點

 

27.3.4具體步驟

 

第28章支持多空間域的芯片復位測試方法

 

28.1背景技術方案及缺陷

 

28.1.1現有方案

 

28.1.2主要缺陷

 

28.2解決的技術問題

 

28.3提供的技術方案

 

28.3.1結構

 

28.3.2原理

 

28.3.3優點

 

28.3.4具體步驟

 

第29章對參數化類的壓縮處理技術

 

29.1背景技術方案及缺陷

 

29.1.1現有方案

 

29.1.2主要缺陷

 

29.2解決的技術問題

 

29.3提供的技術方案

 

29.3.1結構

 

29.3.2原理

 

29.3.3優點

 

29.3.4具體步驟

 

第30章基於UVM的中斷處理技術

 

30.1背景技術方案及缺陷

 

30.1.1現有方案

 

30.1.2主要缺陷

 

30.2解決的技術問題

 

30.3提供的技術方案

 

30.3.1結構

 

30.3.2原理

 

30.3.3優點

 

30.3.4具體步驟

 

第31章實現覆蓋率收集代碼重用的方法

 

31.1背景技術方案及缺陷

 

31.1.1現有方案

 

31.1.2主要缺陷

 

31.2解決的技術問題

 

31.3提供的技術方案

 

31.3.1結構

 

31.3.2原理

 

31.3.3優點

 

31.3.4具體步驟

 

第32章對實現覆蓋率收集代碼重用方法的改進

 

32.1背景技術方案及缺陷

 

32.1.1現有方案

 

32.1.2主要缺陷

 

32.2解決的技術問題

 

32.3提供的技術方案

 

32.3.1結構

 

32.3.2原理

 

32.3.3優點

 

32.3.4具體步驟

 

第33章針對相互依賴的成員變量的隨機約束方法

 

33.1背景技術方案及缺陷

 

33.1.1現有方案

 

33.1.2主要缺陷

 

33.2解決的技術問題

 

33.3提供的技術方案

 

33.3.1結構

 

33.3.2原理

 

33.3.3優點

 

33.3.4具體步驟

 

第34章對隨機約束程序塊的控制管理及重用的方法

 

34.1背景技術方案及缺陷

 

34.1.1現有方案

 

34.1.2主要缺陷

 

34.2解決的技術問題

 

34.3提供的技術方案

 

34.3.1結構

 

34.3.2原理

 

34.3.3優點

 

34.3.4具體步驟

 

第35章隨機約束和覆蓋組同步技術

 

35.1背景技術方案及缺陷

 

35.1.1現有方案

 

35.1.2主要缺陷

 

35.2解決的技術問題

 

35.3提供的技術方案

 

35.3.1結構

 

35.3.2原理

 

35.3.3優點

 

35.3.4具體步驟

 

第36章在隨機約束對象中實現多繼承的方法

 

36.1背景技術方案及缺陷

 

36.1.1現有方案

 

36.1.2主要缺陷

 

36.2解決的技術問題

 

36.3提供的技術方案

 

36.3.1結構

 

36.3.2原理

 

36.3.3優點

 

36.3.4具體步驟

 

第37章支持動態地址映射的寄存器建模方法

 

37.1背景技術方案及缺陷

 

37.1.1現有方案

 

37.1.2主要缺陷

 

37.2解決的技術問題

 

37.3提供的技術方案

 

37.3.1結構

 

37.3.2原理

 

37.3.3優點

 

37.3.4具體步驟

 

第38章對寄存器突發訪問的建模方法

 

38.1背景技術方案及缺陷

 

38.1.1現有方案

 

38.1.2主要缺陷

 

38.2解決的技術問題

 

38.3提供的技術方案

 

38.3.1結構

 

38.3.2原理

 

38.3.3優點

 

38.3.4具體步驟

 

第39章基於UVM存儲模型的寄存器突發訪問的建模方法

 

39.1背景技術方案及缺陷

 

39.1.1現有方案

 

39.1.2主要缺陷

 

39.2解決的技術問題

 

39.3提供的技術方案

 

39.3.1結構

 

39.3.2原理

 

39.3.3優點

 

39.3.4具體步驟

 

第40章寄存器間接訪問的驗證模型實現框架

 

40.1背景技術方案及缺陷

 

40.1.1現有方案

 

40.1.2主要缺陷

 

40.2解決的技術問題

 

40.3提供的技術方案

 

40.3.1結構

 

40.3.2原理

 

40.3.3優點

 

40.3.4具體步驟

 

第41章基於UVM的存儲建模優化方法

 

41.1背景技術方案及缺陷

 

41.1.1現有方案

 

41.1.2主要缺陷

 

41.2解決的技術問題

 

41.3提供的技術方案

 

41.3.1結構

 

41.3.2原理

 

41.3.3優點

 

41.3.4具體步驟

 

第42章對片上存儲空間動態管理的方法

 

42.1背景技術方案及缺陷

 

42.1.1現有方案

 

42.1.2主要缺陷

 

42.2解決的技術問題

 

42.3提供的技術方案

 

42.3.1結構

 

42.3.2原理

 

42.3.3優點

 

42.3.4具體步驟

 

42.3.5算法性能測試

 

42.3.6備註

 

第43章簡便且靈活的寄存器覆蓋率統計收集方法

 

43.1背景技術方案及缺陷

 

43.1.1現有方案

 

43.1.2主要缺陷

 

43.2解決的技術問題

 

43.3提供的技術方案

 

43.3.1結構

 

43.3.2原理

 

43.3.3優點

 

43.3.4具體步驟

 

第44章模擬真實環境下的寄存器重配置的方法

 

44.1背景技術方案及缺陷

 

44.1.1現有方案

 

44.1.2主要缺陷

 

44.2解決的技術問題

 

44.3提供的技術方案

 

44.3.1結構

 

44.3.2原理

 

44.3.3優點

 

44.3.4具體步驟

 

第45章使用C語言對UVM環境中寄存器的讀寫訪問方法

 

45.1背景技術方案及缺陷

 

45.1.1現有方案

 

45.1.2主要缺陷

 

45.2解決的技術問題

 

45.3提供的技術方案

 

45.3.1結構

 

45.3.2原理

 

45.3.3優點

 

45.3.4具體步驟

 

第46章提高對寄存器模型建模代碼可讀性的方法

 

46.1背景技術方案及缺陷

 

46.1.1現有方案

 

46.1.2主要缺陷

 

46.2解決的技術問題

 

46.3提供的技術方案

 

46.3.1結構

 

46.3.2原理

 

46.3.3優點

 

46.3.4具體步驟

 

第47章兼容UVM的供應商存儲IP的後門訪問方法

 

47.1背景技術方案及缺陷

 

47.1.1現有方案

 

47.1.2主要缺陷

 

47.2解決的技術問題

 

47.3提供的技術方案

 

47.3.1結構

 

47.3.2原理

 

47.3.3優點

 

47.3.4具體步驟

 

47.3.5備註

 

第48章應用於芯片領域的代碼倉庫管理方法

 

48.1背景技術方案及缺陷

 

48.1.1現有方案

 

48.1.2主要缺陷

 

48.2解決的技術問題

 

48.3提供的技術方案

 

48.3.1結構

 

48.3.2原理

 

48.3.3優點

 

48.3.4具體步驟

 

第49章DPI多線程模擬加速技術

 

49.1背景技術方案及缺陷

 

49.1.1現有方案

 

49.1.2主要缺陷

 

49.2解決的技術問題

 

49.3提供的技術方案

 

49.3.1結構

 

49.3.2原理

 

49.3.3優點

 

49.3.4具體步驟

 

第50章基於UVM驗證平臺的硬件模擬加速技術

 

50.1背景技術方案及缺陷

 

50.1.1現有方案

 

50.1.2主要缺陷

 

50.2解決的技術問題

 

50.3提供的技術方案

 

50.3.1結構

 

50.3.2原理

 

50.3.3優點

 

50.3.4具體步驟