積體電路測試實務, 2/e
廖裕評、陸瑞強
- 出版商: 全華圖書
- 出版日期: 2017-04-26
- 定價: $300
- 售價: 9.0 折 $270
- 語言: 繁體中文
- 頁數: 216
- ISBN: 9864635158
- ISBN-13: 9789864635153
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商品描述
積體電路設計是近年來熱門話題，半導體產品廣範的被人使用，本書作者以基礎測試觀念將重點整理出來。
本書第一章為了積體電路測試的簡介，介紹基本配備及觀念。
第二章IC特性與規格介紹，介紹邏輯元件的電性。
第三章DC參數測試，介紹高阻抗電流、開路/短路測試及故障排除。
第四章功能測試。
第五章資料分析，含晶片地圖、統計製程(SPC)。
第六章測試經濟學，介紹成本、產能。附錄整理出詞彙並附有解釋。
本書適合大學、科大電子、電機、資工系「積體電路測試」課程。
目錄大綱
第1章 積體電路測試簡介
第2章 IC特性與規格介紹
第3章 DC參數測試
第4章 功能測試
第5章 資料分析
第6章 測試經濟學
附 錄 詞彙解釋
