集成電路測試技術與實踐
劉晉東
- 出版商: 機械工業
- 出版日期: 2025-09-01
- 售價: $354
- 語言: 簡體中文
- 頁數: 244
- ISBN: 7111787455
- ISBN-13: 9787111787457
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相關分類:
微電子學 Microelectronics
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商品描述
本書聚焦集成電路測試領域，系統且全面地闡述了相關理論、技術與實踐應用，為集成電路相關專業學生及從業者提供了 價值的知識體系。本書將理論知識與豐富的實際案例相結合，緊跟行業前沿技術，為讀者提供了集成電路測試領域從基礎到前沿、從理論到實踐的 指導，是一本助力讀者掌握集成電路測試技術、解決實際問題的實用教材。 全書共6章，分別是緒論、集成電路測試技術基礎、數字集成電路測試技術與實踐、模擬集成電路測試技術與實踐、數模混合集成電路測試技術與實踐，以及其他典型電路測試技術與實踐。本書內容具有較強的實踐性，理論學習與實踐相結合，在實踐過程中，註重觀察和思考，將理論知識應用到實際測試中，從而加深讀者對知識的理解和記憶。 本書可作為普通高等學校集成電路設計、集成電路技術、微電子技術、電子科學與技術等相關專業的實踐課程教材，也可作為從事集成電路相關工作工程技術人員的參考書籍。
作者簡介
劉晉東，北京曾益慧創科技有限公司聯合創始人、首席市場及產品官，FPGA研發工程師出身，曾在 自動化測試測量技術 NI任亞太院校合作經理，了解 工程教育發展和改革趨勢，深度參與 外多所高校集成電路專業和課程建設工作。 首批“集成電路設計與集成系統專業”虛擬教研室專家成員、全國大學生集成電路創新創業大賽技術導師委員會專家、 集成電路創新中心集成電路人才發展委員會專家、中國半導體行業協會集成電路分會人才儲備基地專家委員會專家、第三代半導體產業技術創新戰略聯盟人才發展工作委員會委員。與 高校老師合作出版6本專著、教材，發表多篇與校企合作人才培養、教學改革相關的論文。
目錄大綱
第1章 緒論
1.1 集成電路測試技術與實踐教學的重要性
1.1.1 我國集成電路產業發展需要 多的集成電路測試人才
1.1.2 集成電路測試人才的知識和技能需要通過實踐教學培養
1.2 集成電路測試技術與實踐課程體系
1.2.1 集成電路測試技術與實踐教學的目標
1.2.2 集成電路測試技術與實踐課程內容架構
1.3 本集成電路測試實踐教程的特色
1.3.1 適合作為集成電路測試技術初學者的入門教材
1.3.2 兼顧研發測試和量產測試的教學內容設計
1.3.3 匹配工程教育專業認證標準
1.3.4 利用數字化和智能化技術手段賦能實踐教學
1.4 IECUBE-3839集成電路研發及量產測試通用平臺
1.4.1 當前集成電路測試實訓室建設的痛點
1.4.2 IECUBE-3839使用場景及功能特色
1.4.3 IECUBE-3839數智化能力介紹
1.5 IECUBE Online數智化平臺
1.5.1 IECUBE Online研發背景及功能概覽
1.5.2 IECUBE Online過程性實驗和實踐教學數據記錄與評價
第2章 集成電路測試技術基礎
2.1 集成電路測試的基本概念
2.1.1 集成電路測試的定義
2.1.2 集成電路測試的基本原理
2.1.3 集成電路測試的意義與作用
2.2 集成電路測試的主要環節
2.2.1 制定測試方案
2.2.2 設計測試接口板
2.2.3 開發測試程序
2.2.4 分析測試數據
2.3 集成電路測試的分類、行業現狀及發展趨勢
2.3.1 集成電路測試的分類
2.3.2 集成電路測試行業現狀及發展趨勢
2.4 集成電路測試面臨的挑戰
2.4.1 行業發展挑戰
2.4.2 測試技術挑戰
2.5 集成電路測試技術基礎實踐項目：74系列芯片測試
2.5.1 74系列芯片測試技術概述
2.5.2 實踐項目概述
2.5.3 任務1：理解74系列芯片測試參數及測試原理
2.5.4 任務2：74系列芯片手動測試實踐
2.5.5 任務3：74系列芯片自動化測試實踐
第3章 數字集成電路測試技術與實踐
3.1 數字集成電路測試技術概述
3.1.1 數字集成電路測試中常見的芯片類型
3.1.2 數字集成電路測試參數類型
3.1.3 數字集成電路測試儀器
3.2 數字集成電路測試技術實踐項目：存儲器芯片測試
3.2.1 實踐項目概述
3.2.2 任務1：理解存儲器測試參數及測試原理
3.2.3 任務2：存儲器手動測試實踐
3.2.4 任務3：存儲器自動化測試實踐
第4章 模擬集成電路測試技術與實踐
4.1 模擬集成電路測試技術概述
4.1.1 模擬集成電路測試中常見的芯片類型
4.1.2 模擬集成電路測試參數類型
4.1.3 模擬集成電路測試儀器
4.2 模擬集成電路測試技術實踐項目：集成運算放大器芯片測試
4.2.1 實踐項目概述
4.2.2 任務1：理解運算放大器測試參數及測試原理
4.2.3 任務2：運算放大器手動測試實踐
4.2.4 任務3：運算放大器自動化測試實踐
第5章 數模混合集成電路測試技術與實踐
5.1 數模混合集成電路測試技術概述
5.1.1 數模混合集成電路測試中常見的芯片類型
5.1.2 數模混合集成電路測試主要參數
5.1.3 數模混合集成電路測試儀器
5.2 數模混合集成電路測試技術實踐項目：ADC芯片測試
5.2.1 實踐項目概述
5.2.2 任務1：理解ADC芯片測試參數及測試原理
5.2.3 任務2：ADC芯片手動測試實踐
5.2.4 任務3：ADC芯片自動化測試實踐
第6章 其他典型電路測試技術與實踐
6.1 SoC測試技術概述及實踐項目
6.1.1 SoC芯片測試技術概述
6.1.2 SoC芯片測試
6.2 MEMS測試技術概述及實踐項目
6.2.1 MEMS芯片測試技術概述
6.2.2 MEMS測試
6.3 專用芯片測試技術概述及實踐項目
6.3.1 專用芯片測試技術概述
6.3.2 電力專用計量芯片測試
6.4 RFIC芯片測試技術概述及實踐項目
6.4.1 RFIC芯片測試技術概述
6.4.2 RFIC芯片測試
附錄
附錄A 實驗報告及成績考評要求
附錄B IECUBE-3839測試接口板接口定義
附錄C IECUBE-3839外接分選機、探針臺等外設擴展接口定義
參考文獻
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