DEM插值算法適應性理論與方法

張錦明

  • 出版商: 電子工業
  • 出版日期: 2020-05-01
  • 定價: $774
  • 售價: 8.5$658
  • 語言: 簡體中文
  • ISBN: 7121376172
  • ISBN-13: 9787121376177
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商品描述

DEM精度研究是DEM研究體系的重要組成部分,原始數據精度、插值算法、地貌類型、採樣數據分佈特徵和尺度是影響DEM精度的主要因素之一。插值算法作為其中的直接因素,地貌類型、採樣數據分佈特徵和尺度等因素通過插值算法影響DEM精度。因此,從影響DEM插值精度的不同因素出發,研究DEM插值算法的適應性問題,對降低DEM插值的不確定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意義。本書圍繞DEM插值參數、地貌類型適應性、採樣數據分佈特徵適應性、尺度適應性等問題展開了DEM插值算法適應性的研究和實踐。本書可以作為地圖學與地理信息工程(系統)、環境科學與工程、地理學、地質學、作戰環境學等地球科學領域的研究生或本科生的輔助教材,也可以作為測繪科學與技術、遙感科學、地理信息科學等相關領域研究人員的科研參考書。