On-Chip ESD Protection for Integrated Circuits: An IC Design Perspective (Hardcover)

Albert Z.H. Wang

  • 出版商: KAP
  • 出版日期: 2002-01-31
  • 售價: $1,600
  • 貴賓價: 9.8$1,568
  • 語言: 英文
  • 頁數: 303
  • 裝訂: Hardcover
  • ISBN: 0792376471
  • ISBN-13: 9780792376477
  • 相關分類: 電子學 Eletronics電路學 Electric-circuits
  • 立即出貨 (庫存=1)

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商品描述

Description

This comprehensive and insightful book discusses ESD protection circuit design problems from an IC designer's perspective. On-Chip ESD Protection for Integrated Circuits: An IC Design Perspective provides both fundamental and advanced materials needed by a circuit designer for designing ESD protection circuits, including:

  • Testing models and standards adopted by U.S. Department of Defense, EIA/JEDEC, ESD Association, Automotive Electronics Council, International Electrotechnical Commission, etc.
  • ESD failure analysis, protection devices, and protection of sub-circuits
  • Whole-chip ESD protection and ESD-to-circuit interactions
  • Advanced low-parasitic compact ESD protection structures for RF and mixed-signal IC's
  • Mixed-mode ESD simulation-design methodologies for design prediction ESD-to-circuit interactions, and more!

Many real world ESD protection circuit design examples are provided. The book can be used as a reference book for working IC designers and as a textbook for students in the IC design field.

Table of Contents

Dedication. Acknowledgements. Preface.
1. Introduction.
2. ESD Test Models.
3. ESD Protection Device Solutions.
4. ESD Protection Circuit Solutions.
5. Advanced ESD Protection; Mixed-Signal, RF and Whole-Chip ESD Protection.
6. ESD Failure Analysis and Modeling.
7. Layout and Technology Influences on ESD Protection Circuit Design.
8. ESD Simulation-Design Methodologies.
9. ESD - Circuit Interactions.
10. Conclusion Remarks and Future Work.
Appendix A: Summary for ESD Test Standards. References.
Appendix B: Commercial ESD Testing Systems.
Appendix C: ESD Protection Circuit Design Checklist.
Index.

商品描述(中文翻譯)

描述

這本全面且深入的書籍從集成電路設計師的角度討論了靜電放電(ESD)保護電路設計問題。《集成電路的片上靜電放電保護:IC設計的觀點》提供了電路設計師設計ESD保護電路所需的基礎和高級材料,包括:

- 美國國防部、EIA/JEDEC、ESD協會、汽車電子委員會、國際電工委員會等採用的測試模型和標準
- ESD失效分析、保護器件和子電路的保護
- 整片ESD保護和ESD對電路的相互作用
- 專為射頻和混合信號IC設計的低寄生ESD保護結構
- 混合模式ESD模擬設計方法論,用於設計預測ESD對電路的相互作用等等!

書中提供了許多真實世界的ESD保護電路設計示例。本書可作為工作中的IC設計師的參考書,也可作為IC設計領域的學生的教材。

目錄

- 致謝
- 前言
- 1. 簡介
- 2. ESD測試模型
- 3. ESD保護器件解決方案
- 4. ESD保護電路解決方案
- 5. 高級ESD保護:混合信號、射頻和整片ESD保護
- 6. ESD失效分析和建模
- 7. 佈局和技術對ESD保護電路設計的影響
- 8. ESD模擬設計方法論
- 9. ESD-電路相互作用
- 10. 結論和未來工作
- 附錄A:ESD測試標準摘要
- 參考文獻
- 附錄B:商業ESD測試系統
- 附錄C:ESD保護電路設計檢查清單
- 索引